IEC 68-2-6 試驗(yàn)方法Fc及指引：正弦振動(dòng)

IEC 68-2-6 Test Fc and guidance：Vibration sinusoidal


前言

本試驗(yàn)法之目的在提供一標(biāo)準(zhǔn)之正弦振動(dòng)試驗(yàn)程序，以確定試件遭遇簡(jiǎn)諧(harmonic)振動(dòng)的機(jī)械弱點(diǎn)所在，及特定功能退化情形。本試驗(yàn)法亦可用於決定試件結(jié)構(gòu)整體性及(或)動(dòng)態(tài)特性研究。

範(fàn)圍

本試驗(yàn)法適用於運(yùn)輸或使用過(guò)程中遭遇簡(jiǎn)諧振動(dòng)之元件、裝備或其他產(chǎn)品。 
本試驗(yàn)法包括正弦掃描耐久(endurance by sine sweeping)及固定頻率耐久(endurance at fixed frequency)試驗(yàn)。 
限制

本試驗(yàn)法不適用於使用過(guò)程遭遇隨機(jī)振動(dòng)(random vibration)之試件。

測(cè)試步驟

試件於試驗(yàn)前應(yīng)依相關(guān)規(guī)範(fàn)之規(guī)定執(zhí)行目視檢查、電性及機(jī)械檢驗(yàn)。 
按規(guī)格執(zhí)行試驗(yàn)，且須在完成一軸向所有試驗(yàn)工作後，才能進(jìn)行另一軸向之試驗(yàn)（軸向定義及試驗(yàn)位準(zhǔn)(test level)、時(shí)間均詳列於相關(guān)規(guī)範(fàn)中）。 
若相關(guān)規(guī)範(fàn)有所規(guī)定，則應(yīng)於試驗(yàn)中執(zhí)行功能測(cè)試及各項(xiàng)量測(cè)工作。 
試驗(yàn)終止。 
俟試件回復(fù)至試驗(yàn)前相同之狀態(tài)後，應(yīng)執(zhí)行目視檢查、電性及機(jī)械檢驗(yàn)。 
測(cè)試條件

試驗(yàn)位準(zhǔn) 
本試驗(yàn)相關(guān)之頻率範(fàn)圍、位移、振幅與加速度值，請(qǐng)參考表1～表3及圖1所示。 

試驗(yàn)時(shí)間 
正弦掃描耐久試驗(yàn)

以掃描循環(huán)數(shù)表示，建議值：1, 2, 5, 10, 20, 50, 100循環(huán)，在不降低試驗(yàn)應(yīng)力之前題下，可分段執(zhí)行。

關(guān)鍵頻率耐久(endurance at critical frequency)試驗(yàn) 
10分 ±0.5分

30分 ±1分

90分 ±1分

10時(shí) ±5分

預(yù)定頻率耐久(endurance at predetermined frequency)試驗(yàn) 
預(yù)期考量試件在操作歷程中所遭遇振動(dòng)之總時(shí)間，而以107次往復(fù)為上限。

試驗(yàn)容差 
振幅

參考點(diǎn)(reference point)

參考點(diǎn)控制信號(hào)：±15％。

相關(guān)規(guī)範(fàn)?wèi)?yīng)說(shuō)明採(cǎi)用單點(diǎn)或多點(diǎn)控制。

多點(diǎn)控制者應(yīng)說(shuō)明上述容差限制對(duì)象是多點(diǎn)之平均值或特定單點(diǎn)值。

檢查點(diǎn)(check point)

任一檢查點(diǎn)試驗(yàn)方向之容差：

500Hz以下 ±25％

500Hz以上 ±50％

未能符合上述規(guī)定者，宜於相關(guān)文件上指明採(cǎi)用容差或替代方法。

任一檢查點(diǎn)非試驗(yàn)方向之容差：

檢查點(diǎn)之側(cè)向(垂直試驗(yàn)軸向)振幅，在頻率低於500Hz時(shí)不得大於試驗(yàn)軸向50％，高於500Hz時(shí)不得大於100％。相關(guān)規(guī)範(fàn)有特別需求者得限制為25％。

未能符合上述規(guī)定者應(yīng)於相關(guān)規(guī)範(fàn)指明採(cǎi)用「標(biāo)示不符規(guī)定部份並登錄文件」或「?jìng)?cè)向運(yùn)動(dòng)不予監(jiān)測(cè)」何項(xiàng)要求。

頻率

參考點(diǎn)

0.25Hz以下 ±0.05Hz

0.25Hz～5Hz ±20％

5Hz～50Hz ±1Hz

50Hz以上 ±2％

振動(dòng)響應(yīng)調(diào)查之頻率容差

0.5Hz以下 ±0.05Hz

0.5Hz～5Hz ±10％

5Hz～100Hz ±0.5Hz

100Hz以上 ±0.5％

掃描速率

掃描速率每分鐘一倍頻1oct/min±10％。

畸變量(distortion)

在參考點(diǎn)監(jiān)測(cè)加速度畸變量，應(yīng)涵蓋至5000Hz或驅(qū)動(dòng)頻率之五倍，取大者。

畸變量不得超出25％，但為控制基本頻率(fundamental frequency)加速度振幅之信號(hào)維持在規(guī)定值的情況下，允許暫時(shí)性之超出25％。

未能符合上述規(guī)定者，畸變量應(yīng)標(biāo)示且登錄於文件中。

試驗(yàn)設(shè)置

試件應(yīng)依IEC 68-2-47規(guī)定固定於試驗(yàn)平臺(tái)。夾持點(diǎn)、控制點(diǎn)皆應(yīng)依相關(guān)規(guī)範(fàn)之規(guī)定裝置。裝有振動(dòng)隔離器之試件請(qǐng)參考7.(3)說(shuō)明。

其他

名詞定義：

有關(guān)之名詞請(qǐng)參考ISO Standard 2041："振動(dòng)及衝擊詞彙"，然其中兩名詞在本標(biāo)準(zhǔn)另具特定意義：

掃描循環(huán)(sweep cycle) 
在任一軸向上掃描歷經(jīng)之頻率範(fàn)圍。如從10Hz至150Hz再回至10Hz。

畸變量(distortion) 
　   
　 a1 ：某驅(qū)動(dòng)頻率加速度均方根值(root mean square)  
　 atot：振動(dòng)機(jī)輸出之總加速度均方根值(包括 a1)  



在ISO Standard 2041中未定義之名詞如下述：

夾持點(diǎn)(fixing point) 
試件與夾具或振動(dòng)臺(tái)接合之點(diǎn)位，此點(diǎn)位為常態(tài)使用時(shí)固定試件之位置。若有取用試件實(shí)際固定結(jié)構(gòu)之部份為夾具者，夾持點(diǎn)為此部份結(jié)構(gòu)之夾持點(diǎn)位，而非試件與固定結(jié)構(gòu)之接合點(diǎn)位。

量測(cè)點(diǎn)(measuring point) 
進(jìn)行試驗(yàn)時(shí)，應(yīng)於指定點(diǎn)位蒐集數(shù)據(jù)。所謂指定點(diǎn)位主要有二類，但以評(píng)估動(dòng)態(tài)行為為目的之試件內(nèi)部量測(cè)點(diǎn)，不屬本文所稱之量測(cè)點(diǎn)。

檢查點(diǎn) 
夾具上、振動(dòng)平臺(tái)或試件上，很靠近夾持點(diǎn)之堅(jiān)固位置 檢查點(diǎn)用以確保試驗(yàn)滿足需求。夾持點(diǎn)少於四點(diǎn)時(shí)每一點(diǎn)皆為檢查點(diǎn)。夾持點(diǎn)多於四點(diǎn)時(shí)，應(yīng)於相關(guān)規(guī)範(fàn)中定義具代表性之四個(gè)點(diǎn)位為檢查點(diǎn)。特殊情形，如大型試件或複合試件，若有非接近夾持點(diǎn)之檢查點(diǎn)者，應(yīng)明定於相關(guān)之規(guī)範(fàn)中。若單一夾具接合許多試件或小試件而具眾多夾持點(diǎn)者，且?jiàn)A具之*低共振頻率遠(yuǎn)大於試驗(yàn)之*高頻率時(shí)，可選用單一檢查點(diǎn)(即參考點(diǎn))為振動(dòng)控制之用。

參考點(diǎn) 
檢查點(diǎn)中作為振動(dòng)控制用之點(diǎn)位，須符合本標(biāo)準(zhǔn)之需求。

控制點(diǎn)(control point) 
單點(diǎn)控制

利用參考點(diǎn)上轉(zhuǎn)能器(transducer)信號(hào)達(dá)成保持此點(diǎn)在既定之振動(dòng)位準(zhǔn)。

多點(diǎn)控制

利用每一檢查點(diǎn)上轉(zhuǎn)能器信號(hào)達(dá)成振動(dòng)控制之目的。多點(diǎn)信號(hào)依相關(guān)規(guī)範(fàn)規(guī)定為持續(xù)之算術(shù)平均或?yàn)闄?quán)衡比較。

g：地球表之標(biāo)準(zhǔn)重力加速度值。

振動(dòng)響應(yīng)調(diào)查(vibration response investigation) 
因振動(dòng)造成試件功能不佳、退化、引起機(jī)械共振或其他響應(yīng)效應(yīng)(如顫震)時(shí)，應(yīng)蒐尋關(guān)鍵頻率。利用正弦掃描耐久試驗(yàn)方式執(zhí)行，唯掃描速率及振幅皆較低。特定情況下可要求耐久試驗(yàn)後之振動(dòng)響應(yīng)調(diào)查與試驗(yàn)前之調(diào)查結(jié)果作比對(duì)，比對(duì)結(jié)果頻率若有變異，相關(guān)規(guī)範(fàn)中應(yīng)訂定後續(xù)措施。

裝有振動(dòng)隔離器之試件 
通則 
通常應(yīng)連同振動(dòng)隔離器進(jìn)行耐久試驗(yàn)，若實(shí)務(wù)上無(wú)法連同振動(dòng)隔離器進(jìn)行試驗(yàn)時(shí)，得考慮隔離器之傳輸比特性，另定單獨(dú)試件之規(guī)範(fàn)。對(duì)試件本體結(jié)構(gòu)*小接收耐震之驗(yàn)證則以單獨(dú)試件為之。

固定頻率耐久試驗(yàn) 
規(guī)範(fàn)?wèi)?yīng)明述含振動(dòng)隔離器試件之共振頻率是否引用為試驗(yàn)頻率。

振動(dòng)響應(yīng)調(diào)查分兩階段實(shí)施 
無(wú)振動(dòng)隔離器之作用，調(diào)查確認(rèn)單獨(dú)試件之關(guān)鍵頻率。

調(diào)查振動(dòng)隔離器對(duì)試件之效用，隔離器傳輸比特性。

表1：建議之頻率範(fàn)圍(Hz)  
1.0  
～  35.0  　 
1.0  
～  100.0  　 
10.0  
～  55.0  　 
10.0  
～  150.0  　 
10.0  
～  500.0  　 
10.0  ～  2000.0  　 
10.0  ～  5000.0  　 
55.0  ～  500.0  　 
55.0  ～  2000.0  　 
55.0  ～  5000.0  　 
100.0  ～  2000.0  　 

　

表2：建議之位移(頻率範(fàn)圍10Hz以下) 
mm  in  
10.0  0.4  
35  1.4  
75  3.0  
100  4.0 

　

表3：建議之振幅及位移與加速度值之轉(zhuǎn)折點(diǎn)
8Hz～9Hz (低轉(zhuǎn)折點(diǎn))				57Hz～62Hz(高轉(zhuǎn)折點(diǎn))
mm	(in)	m/s2	g	mm	(in)	m/s2	g
0.35	0.014	0.98	0.1	0.035	0.0014	4.9	0.5
0.75	0.03	1.96	0.2	0.075	0.003	9.8	1
1.5	0.06	4.9	0.5	0.15	0.006	19.6	2
3.5	0.14	9.8	1	0.35	0.014	49	5
7.5	0.3	19.6	2	0.75	0.03	98	10
10	0.4	29.4	3	1	0.04	147	15
15	0.6	49	5	1.5	0.06	196	20
				2	0.08	294	30
				3.5	0.14	490	50

IEC 68-2-6 試驗(yàn)方法Fc及指引：正弦振動(dòng)