?GB/T 5170的本部分規(guī)定了濕熱試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條
件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。
本部分適用于對GB/T 2423.3《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cab：恒定濕熱
試驗》、GB/T 2423.4《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗Db：交變濕熱試驗方法》和GB/T 2423.16
《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗J：長霉》所用試驗設(shè)備的首次檢驗/驗收檢驗和
周期檢驗。
本部分也適用于類似試驗設(shè)備的檢驗。
?2 規(guī)范性引用文件
下列文件中的條款通過GB/T 5170的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件，
其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵根據(jù)本部分達成協(xié)
議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本部分。
GB/T 2423.3 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cab：恒定濕熱試驗（GB/T 2423.3
－
2006， IEC 60068
－
2
－
78：2001，IDT）
GB/T 2423.4 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Db：交變濕熱試驗方法（GB/T
2423.4
－
2008， IEC 60068
－
2
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30：2005，IDT）
GB /T 2423.16 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗J：長霉（GB/T 2423.16
－
1999，
idt IEC 60068
－
2
－
10：1988）
GB/T 2424.6 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 溫度/濕度試驗箱性能確認（GB/T 2424.6
－
2006， IEC
60068
－
3
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6：2001，IDT）
GB/T 5170.1
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2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則
GB/T 6999 環(huán)境試驗用相對濕度查算表
GB/T 16839.1 熱電偶 第1部分：分度表（GB/T 16839.1
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1997，idt IEC 60584
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1：1995）
IEC 60751 工業(yè)鉑電阻敏感元件
掃一掃關(guān)注一品
