GB/T 2423.1-2001

本標(biāo)準(zhǔn)所涉及的低溫試驗(yàn)適用于非散熱和散熱兩類試驗(yàn)樣品。對于非散熱試驗(yàn)樣品，試驗(yàn)Aa和Ab不違背早期發(fā)行的標(biāo)準(zhǔn)。本標(biāo)準(zhǔn)**于用來考核或確定電工、電子產(chǎn)品(包括件、設(shè)備及其他產(chǎn)品)在低溫環(huán)境條件下貯存和(或)使用的適應(yīng)性。這一低溫試驗(yàn)不能用來評價(jià)試驗(yàn)樣品對溫度變化的耐抗性和在溫度變化期間的工作能力，在這種情況下，應(yīng)當(dāng)采用試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法。

低溫試驗(yàn)方法分為以下三類:

非散熱試驗(yàn)樣品低溫試驗(yàn):——試驗(yàn)Aa:

溫度突變——試驗(yàn)Ab:

溫度漸變散熱試驗(yàn)樣品低溫試驗(yàn):——試驗(yàn)Ad:

溫度漸變本試驗(yàn)方法通常用于條件試驗(yàn)期間能達(dá)到溫度穩(wěn)定的試驗(yàn)樣品。試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間是從試驗(yàn)樣品溫度達(dá)到穩(wěn)定時(shí)開始計(jì)算的。在特殊情況下，如果條件試驗(yàn)期間試驗(yàn)樣品達(dá)不到溫度穩(wěn)定，則試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間從試驗(yàn)箱(室)達(dá)到規(guī)定試驗(yàn)溫度時(shí)開始計(jì)算。

相關(guān)規(guī)范應(yīng)規(guī)定:

a)試驗(yàn)箱(室)內(nèi)溫度變化速率;

b)試驗(yàn)樣品放入試驗(yàn)箱(室)的時(shí)間;