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GB/T 5170的本部分規(guī)定了濕熱試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負(fù)載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。
本部分適用于對GB/T 2423.3《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cab:恒定濕熱試驗》、GB/T 2423.4《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗Db:交變濕熱試驗方法》和GB/T 2423.16
《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗J:長霉》所用試驗設(shè)備的首次檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。
本部分也適用于類似試驗設(shè)備的檢驗。
2規(guī)范性引用文件
下列文件中的條款通過GB/T 5170的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件, 其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本部分。
GB/T 2423.3 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cab:恒定濕熱試驗(GB/T 2423.3
-2006, IEC 60068-2-78:2001,IDT)
GB/T 2423.4 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Db:交變濕熱試驗方法(GB/T 2423.4-2008, IEC 60068-2-30:2005,IDT)
GB /T 2423.16 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗J:長霉(GB/T 2423.16-1999, idt IEC 60068-2-10:1988)
GB/T 2424.6 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 溫度/濕度試驗箱性能確認(rèn)(GB/T 2424.6-2006, IEC 60068-3-6:2001,IDT)
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則GB/T 6999 環(huán)境試驗用相對濕度查算表
GB/T 16839.1 熱電偶 第1部分:分度表(GB/T 16839.1-1997,idt IEC 60584-1:1995) IEC 60751 工業(yè)鉑電阻敏感元件
3術(shù)語和定義
本部分采用GB/T 5170.1-2008規(guī)定的術(shù)語和定義。
4檢驗項目
本部分的檢驗項目如下:
——溫度偏差;
——相對濕度偏差;
——溫度波動度;
——相對濕度波動度;
——溫度均勻度;
——相對濕度均勻度;
——每 5min 溫度平均變化速率;
——風(fēng)速;
——升降溫特性;
——溫度指示誤差;
——相對濕度指示誤差;
——溫度過沖量;
——相對濕度過沖量;
——溫度過沖恢復(fù)時間;
——相對濕度過沖恢復(fù)時間;
——噪聲。
5檢驗用主要儀器及要求
5.1溫度測量儀器
采用由鉑電阻、熱電偶傳感器及二次儀表組成的溫度測量系統(tǒng),其測量結(jié)果的擴(kuò)展不確定度(k=2) 不大于被檢溫度允許偏差的1/3。
鉑電阻傳感器應(yīng)符合IEC 60751的等級A,熱電偶傳感器應(yīng)符合GB/T 16839.1。
傳感器在空氣中的50%響應(yīng)時間應(yīng)在10s~40s之間,溫度測量系統(tǒng)的響應(yīng)時間應(yīng)小于40s。
5.2濕度測量儀器
采用干濕球溫度計或由其他濕度傳感器組成的濕度測量系統(tǒng),其測量結(jié)果的擴(kuò)展不確定度(k=2) 不大于被測濕度允許偏差的1/3。
5.3風(fēng)速測量儀器
采用各種風(fēng)速儀,其感應(yīng)量不大于0.05m/s。
5.4噪聲測量儀器
帶A計權(quán)網(wǎng)絡(luò)的聲級計,其測量結(jié)果的擴(kuò)展不確定度(k=2)不大于1dB。
6檢驗負(fù)載
按GB/T 5170.1-2008第7章的規(guī)定(或按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定)。
7檢驗條件
7.1受檢試驗設(shè)備在檢驗時的氣候條件、電源條件、用水條件和其他條件應(yīng)符合 GB/T 5170.1-2008 第 4 章的規(guī)定。
7.2受檢試驗設(shè)備的外觀和安全要求應(yīng)符合 GB/T 5170.1-2008 第 8 章的規(guī)定。
8檢驗方法
8.1溫度偏差、相對濕度偏差、溫度波動度、相對濕度波動度、溫度均勻度、相對濕度均勻度、溫度指示誤差、相對濕度指示誤差、每 5min 溫度平均變化速率、風(fēng)速的檢驗方法
8.1.1測量點(diǎn)數(shù)量及位置
8.1.1.1根據(jù)試驗設(shè)備容積的大小,將工作空間分為上、中、下三層,中層通過工作空間幾何中心點(diǎn)。將一定數(shù)量的溫度、相對濕度傳感器布放在其中規(guī)定的位置上,傳感器不應(yīng)受冷熱源的直接輻射。
8.1.1.2測量點(diǎn)分別位于上、中、下三層。
8.1.1.3溫度測量點(diǎn)用 O、A、B、C、D、E、F、G、H、J、K、L、M、N、U 表示。
8.1.1.4相對濕度測量點(diǎn)用 Oh、Dh、Hh、Lh 表示。
8.1.1.5風(fēng)速測量點(diǎn)數(shù)量及布放位置與溫度測量點(diǎn)完全相同。
8.1.1.6測量點(diǎn) E、O、Oh、U 分別位于上、中、下層的幾何中心。其它各測量點(diǎn)與試驗設(shè)備內(nèi)壁的距離為各自邊長的 1/10(遇有風(fēng)道時,是指與送風(fēng)口和回風(fēng)口的距離),但最大距離不大于 500mm,最小距離不小于 50mm。如果設(shè)備帶有樣品架或樣品車時,下層測量點(diǎn)可布放在樣品架或樣品車上方 10mm 處。
8.1.1.7試驗設(shè)備容積小于或等于 2m3 時,溫度測量點(diǎn)為 9 個,相對濕度測量點(diǎn)為 3 個,位置如圖 1 所示。
8.1.1.8試驗設(shè)備容積大于 2m3 時,溫度測量點(diǎn)為 15 個,相對濕度測量點(diǎn)為 4 個,布放位置如圖 2 所示。
8.1.1.9當(dāng)試驗設(shè)備容積小于 0.05 m3 或大于 50 m3 時,可適當(dāng)減少或增加測量點(diǎn)。
8.1.1.10根據(jù)試驗和檢驗的需要,可在試驗設(shè)備工作空間增加對疑點(diǎn)的測量。
8.1.1.11每 5min 溫度平均變化速率測量點(diǎn)為工作空間幾何中心點(diǎn)。
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