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電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法溫度試驗設(shè)備

Inspection methods for environmental testing equipments for electric and electronic products--

Temperature testing equipments

2008-06-16 發(fā)布 2009-03-01 實施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布

中國國家標準化管理委員會

前言 II

1范圍 1

2規(guī)范性引用文件 1

3術(shù)語和定義 1

4檢驗項目 1

5檢驗用主要儀器及要求 2

6檢驗負載 2

7檢驗條件 2

8檢驗方法 2

9數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果 7

10檢驗周期 8

附錄 A （規(guī)范性附錄）檢驗項目的選擇 9

前言

GB/T 5170包含以下部分：

——GB/T 5170.1－2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法總則

——GB/T 5170.2－2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法溫度試驗設(shè)備

——GB/T 5170.5－2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法濕熱試驗設(shè)備

——GB/T 5170.8－2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法鹽霧試驗設(shè)備

——GB/T 5170.9－2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法太陽輻射試驗設(shè)備

——GB/T 5170.10－2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法高低溫低氣壓試驗設(shè)備

——GB/T 5170.11－2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法腐蝕氣體試驗設(shè)備

——GB/T 5170.13－2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(正弦)試驗用機械振動臺

——GB/T 5170.14－1985 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(正弦)試驗用電動振動臺

——GB/T 5170.15－2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(正弦)試驗用液壓振動臺

——GB/T 5170.16－2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法穩(wěn)態(tài)加速度試驗用離心機

——GB/T 5170.17－2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗設(shè)備

——GB/T 5170.18－2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度/濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備

——GB/T 5170.19－2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度/振動(正弦)綜合試驗設(shè)備

——GB/T 5170.20－2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法水試驗設(shè)備本部分是GB/T 5170的第2部分。

本部分代替GB/T 5170.2－1996。與GB/T 5170.2－1996相比技術(shù)內(nèi)容主要有如下變化：

——標準名稱“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備”更改為“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法溫度試驗設(shè)備”；

——所有用詞“檢定”更改為“檢驗”；

——增加了“術(shù)語和定義”一章；

——增加了“溫度波動度”檢驗項目；

——增加了“溫度均勻度” 檢驗項目；

——增加了“每 5min 溫度平均變化速率” 檢驗項目；

——增加了“溫度指示誤差” 檢驗項目；

——增加了“溫度過沖量” 檢驗項目；

——增加了“溫度過沖恢復(fù)時間” 檢驗項目；

——增加了“噪聲” 檢驗項目；

——刪除了“相對濕度” 檢驗項目；

——在“檢驗用主要儀器及要求”一章中，給出了溫度測量系統(tǒng)其測量結(jié)果的擴展不確定度（k=2）

的要求；

——增加了“檢驗負載”一章；

——修改了“溫度變化速率”的計算方法；

——測量數(shù)據(jù)記錄改為每一分鐘記錄一次數(shù)據(jù)；

——刪除了“檢定過程中的處理”部分；

——附錄 A“測量記錄表格示例”更改為“檢驗項目的選擇”；

——刪除了附錄 B “溫度波動度、溫度均勻度檢定方法”。附錄A為規(guī)范性附錄。

本部分由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標準化技術(shù)委員會(SAC/TC 8)提出并歸口。本部分起草單位：信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所。

本部分主要起草人：伍偉雄、謝晨浩、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、孔玉梅、梁為旺、羅國良。本部分所代替標準的歷次版本發(fā)布情況：

——GB/T 5170.2-1985；GB/T 5170.3-1985；GB/T 5170.4-1985；

——GB/T 5170.2-1996。

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法溫度試驗設(shè)備

1范圍

GB/T 5170的本部分規(guī)定了溫度(含低溫、高溫和溫度變化)試驗設(shè)備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。

本部分適用于對GB/T 2423.1《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫》、GB/T 2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫》和GB/T 2423.22《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化》所用試驗設(shè)備的首次檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。

本部分也適用于類似試驗設(shè)備的檢驗。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過GB/T 5170的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵根據(jù)本部分達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本部分。

GB/T 2423.1 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫（GB/T 2423.1－2001， idt IEC 60068－2－1：1990）

GB/T 2423.2 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫（GB/T 2423.2－2001， idt IEC 60068－2－2：1974）

GB/T 2423.22 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化（GB/T 2423.22－ 2002， IEC 60068－2－14：1984，IDT）

GB/T 2424.5 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗溫度試驗箱性能確認（GB/T 2424.5－2006， IEC 60068－3

－5：2001，IDT）

GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法總則

GB/T 16839.1 熱電偶第1部分：分度表（GB/T 16839.1－1997， idt IEC 60584－1：1995） IEC 60751 工業(yè)鉑電阻敏感元件

3術(shù)語和定義

本部分采用GB/T 5170.1-2008規(guī)定的術(shù)語和定義。

4檢驗項目

本部分的檢驗項目如下：

——溫度偏差；

——溫度波動度；

——溫度均勻度；

——風(fēng)速；

——溫度變化速率；

——每 5min 溫度平均變化速率；

——溫度恢復(fù)時間；

——溫度指示誤差；

——溫度過沖量；

——溫度過沖恢復(fù)時間；

——噪聲。

5檢驗用主要儀器及要求

5.1溫度測量儀器

采用由鉑電阻、熱電偶傳感器及二次儀表組成的溫度測量系統(tǒng)，其測量結(jié)果的擴展不確定度（k=2）不大于被檢溫度允許偏差的1/3。

鉑電阻傳感器應(yīng)符合IEC 60751的等級A，熱電偶傳感器應(yīng)符合GB/T 16839.1。

傳感器在空氣中的50％響應(yīng)時間應(yīng)在10s～40s之間，溫度測量系統(tǒng)的響應(yīng)時間應(yīng)小于40s。當測量溫度變化速率時，溫度測量系統(tǒng)的響應(yīng)時間應(yīng)小于5s。

5.2風(fēng)速測量儀器

采用各種風(fēng)速儀，其感應(yīng)量不大于0.05m/s。

5.3噪聲測量儀器

帶A計權(quán)網(wǎng)絡(luò)的聲級計，其測量結(jié)果的擴展不確定度（k=2）不大于1dB。

6檢驗負載

按GB/T 5170.1-2008第7章的規(guī)定（或按有關(guān)標準的規(guī)定）。

7檢驗條件

7.1受檢試驗設(shè)備在檢驗時的氣候條件、電源條件、用水條件和其他條件應(yīng)符合 GB/T 5170.1-2008 第 4 章的規(guī)定。

7.2受檢試驗設(shè)備的外觀和安全要求應(yīng)符合 GB/T 5170.1-2008 第 8 章的規(guī)定。

8檢驗方法

8.1測量點數(shù)量及位置

8.1.1溫度偏差、溫度波動度、溫度均勻度、溫度指示誤差、風(fēng)速的測量點數(shù)量及位置

8.1.1.1根據(jù)試驗設(shè)備容積的大小，將工作空間分為上、中、下三層，中層通過工作空間幾何中心點。將一定數(shù)量的溫度傳感器布放在其中規(guī)定的位置上，傳感器不應(yīng)受冷熱源的直接輻射。

8.1.1.2測量點分別位于上、中、下三層。

8.1.1.3溫度測量點用英文字母 O、A、B、C、D、E、F、G、H、J、K、L、M、N、U 表示。

8.1.1.4測量點 O 為設(shè)備工作空間的幾何中心點，其它各測量點的位置與設(shè)備內(nèi)壁的距離為工作室各自邊長的 1/10(遇有風(fēng)道時，是指與送風(fēng)口和回風(fēng)口的距離)，但最大距離不大于 500mm，最小距離不小于 50mm。如果設(shè)備帶有樣品架或樣品車時，下層測量點可布放在樣品架或樣品車上方 10mm 處。

8.1.1.5風(fēng)速測量點與溫度測量點的數(shù)量與布放位置完全相同。

8.1.1.6試驗設(shè)備容積小于或等于 2m3 時，溫度測量點為 9 個，布放位置如圖 1 所示。

8.1.1.7試驗設(shè)備容積大于 2m3 時，溫度測量點為 15 個，布放位置如圖 2 所示。

8.1.1.8當試驗設(shè)備容積小于 0.05m3 或大于 50m3 時，可適當減少或增加測量點。

8.1.1.9根據(jù)試驗和檢驗的需要，可在試驗設(shè)備工作空間增加對疑點的測量。本站數(shù)據(jù)只是網(wǎng)上收集數(shù)據(jù)僅供參考