?性能指標(biāo)符合以下標(biāo)準(zhǔn):
GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn) N: 溫度變化;
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn) B: 高溫。
4.1.14 設(shè)備需支持 SECS/GEM 協(xié)議
4.1.15 MTBA (平均故障間隔周期)
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?高低溫SATA老化柜,高低溫SATA試驗(yàn)箱,高低溫SATA箱,SATA環(huán)境試驗(yàn)箱,SATA測(cè)試設(shè)備 ?SSD專用高低溫試驗(yàn)箱,SSD測(cè)試箱,SSD試驗(yàn)機(jī),SSD高溫檢測(cè)箱,SSD恒溫恒濕箱 ? ? ? ??? ? ?? ? ? |
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